旺矽科技推出全新 250 GHz 寬帶探針解決方案，穩(wěn)固高頻測試領域領導地位
整合 TITAN? 探針技術與晶圓級測量專長，開啟新一代半導體與次太赫茲應用精密測試新篇章
新竹2025年9月15日 /美通社/ -- 全球領先的先進半導體測試解決方案廠商旺矽科技股份有限公司（MPI Corporation，以下簡稱“旺矽科技”）宣布，正式推出可支持是德科技（Keysight Technologies，以下簡稱“是德科技”）全新 NA5305A/7A PNA-X 頻率擴頻器的全集成 250 GHz 寬帶測試解決方案。該方案結合旺矽在次太赫茲探測技術與晶圓級測量領域的深厚經驗，搭配 TITAN? 射頻探針及探針臺平臺，提供業(yè)界領先的高達 250 GHz 寬帶 S 參數測試能力。
專為是德科技PNA-X擴頻器打造的旺矽TITAN? 250 GHz探針
這一最新里程碑凝聚了旺矽科技在高頻測試領域的深厚技術積累，包括早期突破 200 GHz 寬帶探針測試極限的解決方案。同時，這也彰顯了與是德科技的深度合作，通過將業(yè)界領先的測試儀器與旺矽先進的晶圓級測試方案相結合，以滿足快速增長的次太赫茲測試需求。
旺矽科技先進半導體測試（AST）事業(yè)部總經理 Stojan Kanev 表示：
“旺矽是首家實現高達 250 GHz 實時單次掃描校準，并支持單端/差分晶圓級測試的企業(yè)。這一成就建立在我們在 200 GHz 以上寬帶晶圓特性表征領域多年驗證的解決方案與卓越業(yè)績之上。全新的 250 GHz 解決方案結合 TITAN? 探針技術與系統(tǒng)集成優(yōu)勢，能夠提供穩(wěn)定可重復的測試結果、清晰的探針尖端可見性，以及確保安全簡便操作的保護設計，幫助工程師節(jié)省時間、保護系統(tǒng)并實現最佳性能?！?/p>
專為次太赫茲精度打造
該250 GHz解決方案包括旺矽科技TITAN?單端式T250MAK與差分式T250MSK探針，采用全新 0.5 毫米寬帶同軸接口，分別針對寬帶器件表征與高速差分測試而設計。探針具備以下特點：
在全頻段范圍內實現超低插入損耗與優(yōu)異回波損耗
獨特的針尖可視設計與卓越機械穩(wěn)定性，確保精準對位、接觸可靠與數據一致
伸縮式探針尖端保護裝置設計，保障操作安全
提供單端（GSG）與差分（GSGSG）配置，優(yōu)化適配不同器件需求
TITAN? T250系列探針可與旺矽科技全系列探針臺平臺完美集成，支持溫控晶圓級測量，最大程度減少人工操作，確保系統(tǒng)的最佳重復性。
是德科技觀點
是德科技產品經理 David Tanaka 表示：“旺矽科技在高頻晶圓探針技術的持續(xù)創(chuàng)新，對擴展我們寬帶矢量網絡分析儀平臺的測試能力至關重要。他們的 TITAN? 探針提供了實現我們 250 GHz 解決方案所需的精度、重復性和系統(tǒng)級集成能力。本次合作將有助于我們因應日益增長的次太赫茲先進測試需求?！?/p>
滿足半導體創(chuàng)新者不斷演進的技術需求
隨著人工智能、5G/6G 及高速光通信推動半導體性能不斷提升，測試測量工具必須同步演進。旺矽科技 250 GHz 寬帶測試系統(tǒng)應運而生，具備以下優(yōu)勢：
支持最高達250 GHz的全校準單掃描寬頻S參數測量
支持調制寬頻及非線性測量能力
可與主流測試儀器無縫集成，構建完整測試鏈
旺矽科技最新解決方案已在多家核心客戶與合作伙伴的評估環(huán)境中部署，并在臺灣地區(qū)與美國設有演示系統(tǒng)。該解決方案計劃于 2025 年在荷蘭烏得勒支舉辦的歐洲微波周（EuMW）上全球首發(fā)并進行現場演示。
